Messanlagen

Immer feiner

werden Oberflächenstrukturen und mit dem Feinheitsgrad wachsen auch die Anforderungen an Messsysteme. Vom Verschleiß in Verbrennungsmotoren über neuartige Korrosionsschutz-Schichten bis hin zu modernen Autolacken - immer häufiger spielt die Kenntnis der Oberflächenstruktur auf der Nanometerskala in industriellen Prozessen die entscheidende Rolle. Zugleich wächst der Wunsch, Oberflächen, Beschichtungen und Werkstoffe möglichst umfassend hinsichtlich ihrer Eigenschaften zu charakterisieren und beispielsweise chemische Prozesse, Korrosion und Abrieb ortsaufgelöst auf kleinster Skala zu untersuchen.

Hier bietet sich die Rasterkraftmikroskopie (AFM für Atomic Force Microscopy) als ein äußerst flexibles bildgebendes Verfahren an, das von einer Längenskala von 0,2 Millimeter über die Mikrometer- und Nanometerskala bis hinab zur Abbildung des Gitters der Atome reicht – und das mit ein und demselben Messgerät. Mit dem BMT MultiScan AFM 3000 von Breitmeier Messtechnik ist nun ein Rasterkraftmikroskop auf dem Markt, das sich durch einen modularen Aufbau und eine außerordentliche Flexibilität bei gleichzeitig einfachster Bedienung auszeichnet. Der einzigartige Messmodus des Chemical Contrast Imaging (AFM-CCI) erlaubt es, kleinste chemische Veränderungen auf Oberflächen nachzuweisen und damit Prozesse von Korrosion, Verschleiß, Oxidation etc. dort zu verfolgen, wo sie beginnen: auf der Mikrometer- und Nanometer-Skala.
Selbstverständlich kann man mit diesem Instrument sowohl an Luft als auch in Inertgasen oder unter Flüssigkeit messen. Neben dem Standardgerät bieten die Ettlinger kundenspezifisch erforderliche Modifikationen an, soweit technisch machbar. ee

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