Messsysteme

Messsysteme zur Positionsrückmeldung

Das Unternehmen entwickelt, fertigt und vertreibt extrem kleine Messsysteme zur Erfassung von Längen und Winkeln mit hoher Genauigkeit und Auflösung.

Der High-Tech-Region Jena mit zahlreichen Forschungseinrichtungen - wie die der Max-Planck-Gesellschaft, der Fraunhofer-Gesellschaft, der Friedrich-Schiller-Universität, der Fachhochschule - und Firmen mit so klangvollen Namen - wie ZEISS, SCHOTT oder JENOPTIK - und weiteren zirka 150 High-Tech-Unternehmen wurde in Anerkennung der einmaligen Konzentration von Wissenschaft und innovativer Technik der Titel Stadt der Wissenschaften 2008 verliehen. Eingebettet in dieses Umfeld entwickelt, fertigt und vertreibt Numerik Jena extrem kleine Messsysteme zur Erfassung von Längen und Winkeln mit hoher Genauigkeit und Auflösung. Das Unternehmen kann auf eine solide Erfolgsbilanz zurückblicken: von 1999 bis 2007 hat sich der Umsatz versechsfacht und die Zahl der Arbeitskräfte ist im gleichen Zeitraum um den Faktor vier auf über 100 angestiegen. Die bestens im Markt eingeführten Messsysteme zur Positionsrückmeldung sind wichtiger Bestandteil von Maschinen und Geräten der Halbleiterindustrie, von Direktantrieben, Präzisionsmaschinen, Lineareinheiten und Rundachsen sowie von Koordinatenmessgeräten und Medizingeräten. Zum Teil widersprüchliche Forderungen der Kunden wie beispielsweise. nach höherer Messgenauigkeit, höherer Messgeschwindigkeit, geringere Empfindlichkeit gegenüber Verschmutzung, gröbere Anbautoleranzen und kleineren Einbauräumen werden mit der derzeitigen Produktpalette erfüllt. Wichtige Leistungsparameter sind: Im Messsystem integrierte Signalinterpolation bis 100-fach und damit Wegauflösungen bis 0,05 µm, hohe Messgeschwindigkeiten bis zu 1,6 m/s bei Auflösung 0,1 µm, Reduzierung von kurzperiodischen Positionsfehlern, die zum Beispiel durch Anbaufehler oder Verschmutzung der Maßverkörperung auftreten können, durch eine dynamische Offset- und Amplitudenregelung, Möglichkeit des elektronischen Signalabgleichs nach Anbau des Messsystems, hohe Verschmutzungsunabhängigkeit durch Doppelfeldabtastung, DOUBLEFLEX- Maßstäbe mit definiertem thermischen Verhalten und Genauigkeiten bis zu ±1 µm pro Meter und optional im Messkopf integrierte Schaltsensoren. Neuestes Produkt ist das extrem kleine Linearmesssystem LIK 4 mit Messkopfabmessungen von nur 11 x 6 x 24 Millimeter. Interessant sind auch die extrem flachen Drehgeber-Komponenten RIK und KIT R, die breite Anwendung in Rundachsen und Torquemotoren finden. Ein breites Rasterscheibensortiment von Durchmesser 26 Millimeter bis 200 Millimeter und Strichzahlen von 900 bis 24000 runden das Angebot ab. Spezielle Ausführungen für magnetfreie Anwendungen oder für den Einsatz im Ultra-Hochvakuum bis 10 -9 mbar sind sowohl für rotative als auch für lineare Anwendungen verfügbar. Numerik finden Sie auf der Control 2008 in Halle 5, Stand 5210.

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