Laser-Scanning-Mikroskop

Schritt für Schritt

wird der Anwender der LEXT 3D bei der Anwendung geführt. Die konfokalen Laser-Scanning-Mikroskope von Olympus ermöglichen exakte 3D-Messungen. Das OLS 3100 für anspruchsvolle Metrologie und das OLS 3000 IR für die zerstörungsfreie Beobachtung komplexer Halbleiterkomponenten. Beide reduzieren die Notwendigkeit manueller Einstellungen und verbessern den Bedienkomfort für alle Funktionen. So lassen sich selbst ohne Vorkenntnisse auf Anhieb schnelle und zuverlässige Messergebnisse erzielen. Die Systeme bieten neben erweiterter Funktionalität auch einen höheren Visualisierungsgrad und genauere Messleistungen als ihre Vorgängermodelle. Durch die Weiterentwicklung hinsichtlich einfacherer Handhabung und noch größerer Präzision empfehlen sich die Systeme für zahlreiche Anwendungen – sowohl für die UV-basierte Messung feiner Oberflächenprofile als auch die zerstörungsfreie Beobachtung im nahen Infrarotbereich von Innenräumen elektronischer Bauteile.

Der Operation-Navigator bietet Animationen, die den Anwender Schritt für Schritt durch alle Stufen der Beobachtung führen. Er braucht zum Beispiel lediglich mit der Maus den Beispielen in den Animationen zu folgen, um Abläufe problemlos auszuführen. Für 3D-Aufzeichnungen reicht ein Mausklick auf den 3D-Aufnahme-Button des LEXT OLS 3100 aus. Zeitraubende Tasks – etwa die Einstellung des Scanbereichs – laufen komplett automatisch ab. Ein weiteres Leistungsmerkmal des Mikroskops ist das Navigationsinstrument zur 3D-Bildsteuerung. Mit Hilfe der Maus lässt sich das 3D-Bild drehen und bewegen. st

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